CP测试内容和测试方法:1、SCAN,SCAN用于检测芯片逻辑功能是否正确。DFT设计时,先使用DesignCompiler插入ScanChain,再利用ATPG(Automatic Test Pattern Generation)自动生成SCAN测试向量。SCAN测试时,先进入Scan Shift模式,ATE将pattern加载到寄存器上,再通过Scan Capture模式,将结果捕捉。再进入下次Shift模式时,将结果输出到ATE进行比较。2、Boundary SCAN,Boundary SCAN用于检测芯片管脚功能是否正确。与SCAN类似,Boundary SCAN通过在IO管脚间插入边界寄存器(Boundary Register),使用JTAG接口来控制,监测管脚的输入输入出状态。芯片测试机通常集成了多个测试模块。东莞MINI芯片测试机定制价格
自动下料机构52下料时,首先将一个空的tray盘放置于第二料仓51的第二移动底板47上,并将该空的tray盘置于第二料仓51的开口部。检测合格的芯片放置于该空的tray盘中。当该tray盘中已放满检测后的芯片后,伺服电机43带动滚珠丝杆45转动,滚珠丝杆45带动tray盘向下移动一定距离,然后移载装置20将自动上料装置40空的tray盘移载至自动下料装置50放置,并将空的tray盘放置于自动下料装置50的放满芯片的tray盘的上方,并上下叠放。吸嘴基板232上固定有多个真空发生器27,该真空发生器27与真空吸盘25、真空吸嘴26相连。本实施例可通过真空吸盘25和/或真空吸嘴26吸取芯片。本实施例的机架10上还固定有显示器110,通过显示器110显示测试机的运行,同时机架10上还固定有三色显示灯120,通过显示灯显示测试机的不同的工作状态。本测试机的工控箱、测试机主机、电控箱等均固定于机架10上。本发明在另一实施例中公开了一种芯片测试机的测试方法。杭州芯片测试机公司芯片测试机可用于快速排除芯片制造中的错误。
晶圆、单颗die和封装的芯片。Wafer就是晶圆,这个由Fab进行生产,上面规则地放着芯片(die),根据die的具体面积,一张晶圆上可以放数百数千甚至数万颗芯片(die)。Package Device就是封装好的芯片,根据较终应用的需求,有很多种形式,这个部分由芯片产业价值链中的封装工厂进行完成。Prober--- 与Tester分离的一种机械设备,主要的作用是承载wafer,并且让wafer内的一颗die的每个bond pads都能连接到probe card的探针上,并且在测试后,移开之前的接触,同时移动wafer,换另外的die再一次连接到probe card的探针上,并记录每颗die的测试结果。
本发明在另一实施例中公开一种芯片测试机的测试方法。该测试方法包括以下步骤:将多个待测试芯片放置于多个tray盘中,每一个tray盘中放置多个待测试芯片,将多个tray盘放置于自动上料装置,并在自动下料装置及不良品放置台上分别放置一个空tray盘;移载装置从自动上料装置的tray盘中取出待测试芯片移载至测试装置进行测试;芯片测试完成后,移载装置将测试合格的芯片移载至自动下料装置的空tray盘中,将不良品移载至不良品放置台的空tray盘中;当自动上料装置的一个tray盘中的待测试芯片全部完成测试,且自动下料装置的空tray盘中放满测试合格的芯片后,移载装置将自动上料装置的空tray盘移载至自动下料装置。芯片测试机可以进行集成电路的质量检测。
优先选择地,所述移载装置包括y轴移动组件、x轴移动组件、头一z轴移动组件、第二z轴移动组件、真空吸盘及真空吸嘴,所述x轴移动组件与所述y轴移动组件相连,所述头一z轴移动组件、第二z轴移动组件分别与所述x轴移动组件相连,所述真空吸盘与所述头一z轴移动组件相连,所述真空吸嘴与所述第二z轴移动组件相连。优先选择地,所述测试装置包括测试负载板、测试座外套、测试座底板、测试座中间板及测试座盖板,所述测试座外套固定于所述测试负载板上表面,所述测试座底板固定于所述测试座外套上,所述测试座中间板位于所述测试座底板与所述测试座盖板之间,所述测试座底板与所述测试座盖板通过定位销连接固定。芯片测试机支持多样化的测试需求,适用不同种类芯片的测试。肇庆MINI芯片测试机
利用芯片测试机,可以减少制造过程中的失败率。东莞MINI芯片测试机定制价格
在开始芯片测试流程之前应先充分了解芯片的工作原理。要熟悉它的内部电路,主要参数指标,各个引出线的作用及其正常电压。diyi部工作做的好,后面的检查就会顺利很多。芯片很敏感,所以测试的时候要注意不要引起引脚之间的短路,任何一瞬间的短路都能被捕捉到,从而造成芯片烧坏。另外,如果没有隔离变压器时,是严禁用已经接地的测试设备去碰触底盘带电的设备,因为这样容易造成电源短路,从而波及普遍,造成故障扩大化。焊接时,要保证电烙铁不带电,焊接时间要短,不堆焊,这样是为了防止焊锡粘连,从而造成短路。但是也要确定焊牢,不允许出现虚焊的现象。在有些情况下,发现多处电压发生变化,此时不要轻易下结论就是芯片已经坏掉了。要知道某些故障也能导致各个引脚电压测试下来与正常值一样,这时候也不要轻易认为芯片就是好的。东莞MINI芯片测试机定制价格